量子阱

透射电镜在氮化镓器件研发中的关键作用分析

在半导体材料的研究领域中,透射电子显微镜(TEM)已成为一种不可或缺的分析工具。它能够让我们直接观察到氮化镓(GaN)外延片中原子级别的排列细节——这种第三代半导体材料,正是现代快充设备、5G通信基站乃至电动汽车动力系统的核心组成部分。TEM技术的应用,为科研

器件 氮化镓 氮化镓器件 量子阱 器件研发 2025-10-31 11:54  1